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缺陷检测-精准、高效的生产质量保障

AI视觉缺陷检测解决方案,助力半导体行业智能升级

项目痛点:

体积小、精度要求高,人工目检的方式进行全检,效率低,容易出现误差,标准无法统一

 

项目结果:

减少缺陷并提高成品率,准确率达到97%以上

 

项目痛点:

PCB规格较多、背景复杂; 缺陷种类多, 且不同缺陷的尺寸差别较大,部分缺陷微小、与背景特征相近;

 

项目结果:

兼容不同形状、工艺的PCB;漏检率低于0.1%,误检率低于1%;

 

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项目痛点:

肉眼无法检测出微小的缺陷和不均匀性;缺陷尺度小、形态多样,人工检测标准难以统一

 

项目结果:

缺陷漏检率控制在0.2%以下

 

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